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Proyecto: Desarrollo de Sistemas de Metrología para escala Micro y Nanométricas. 
Responsable: Rodolfo  Cortés  Martínez
Tipo de proyecto: Proyecto Interno
Resumen: Se pretende utilizar la naturaleza de la radiación evanescente de las ondas superficiales confinadas en el diseño y desarrollo un sistema de metrología para mediciones a escala micro y nanométrico utilizando los principios de la Interferometría clásica. En este proyecto se investigará experimentalmente la correlación del patrón de interferencia debido al esparcimiento de dos campos evanescentes en el campo lejano usando un microscopio convencional. Se evaluará la técnica y se caracterizará el prototipo experimental con objetos de dimensiones micrométricas y nanométricas conocidas. Se explorará las capacidades del método mediante patrones de difracción conocidos. Su conceptualización en su fácil implementación y bajo costo lo hace un candidato de gran aplicación potencial a escala micrométrica y/o nanométrica en las ciencias de la salud e ingeniería. Adicionalmente, se pretende escalar el dispositivo del rango óptico al régimen de microondas para construir un microscopio que opere en modo de colección en ese régimen.
Vigencia: (2013-05-03 - 2016-12-31)

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